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品牌簡(jiǎn)述：Cascade Microtech,Inc.于2016年被FormFactor收購。FormFactor,Inc.（納斯達克股票代碼：FORM）是一家在整個(gè)IC生命周期（從表征、建模、可靠性和設計開(kāi)發(fā)）提供基本測試和測量技術(shù)的領(lǐng)先供應商。-bug，進(jìn)行資格認證和生產(chǎn)測試。半導體公司依靠FormFactor的產(chǎn)品和服務(wù)，通過(guò)優(yōu)化設備性能和提高產(chǎn)量知識來(lái)提高盈利能力。該公司通過(guò)其位于亞洲、歐洲和北美的設施網(wǎng)絡(luò )為客戶(hù)提供服務(wù)。深圳華聯(lián)歐公司長(cháng)期穩定供應CASCADE,美國CASCADE探針臺,CASCADE可靠性測試臺，下面就一起來(lái)看看吧。深圳華聯(lián)歐自成立以來(lái)，一直致力于為客戶(hù)提供德國及歐美地區原產(chǎn)的各類(lèi)工控機電設備、各類(lèi)儀器儀表零配件，確保全新原裝正品。全新原裝美國CASCADE全系列產(chǎn)品，型號齊全，質(zhì)量保證，售后完善。歡迎在線(xiàn)咨詢(xún)，誠信并重視每一位客戶(hù)，提供一對一專(zhuān)業(yè)服務(wù)~?
一、美國CASCADE公司簡(jiǎn)介
Cascade Microtech公司是包含集成電路(IC)，芯片，電路板，模塊，MEMS，3D TSV，LED器件等在外部的一流半導體器件的高精度電氣測量和測試領(lǐng)域中的全球領(lǐng)導者。針臺和分析用探針廣為應用作繁雜，高速公路器件的高精度電氣測量的研發(fā)，意在保證質(zhì)量及可靠性，并削減研究時(shí)間和器件組裝工藝的成本。Cascade最一流的量產(chǎn)用作測試產(chǎn)品獨有的探針卡，測試插座和ATE接觸器，可減少高速公路及高密度半導體芯片的組裝成本。FormFactor誕生于1993年，當時(shí)IBM前研究員Igor Khandros開(kāi)始在紐約的一個(gè)小型實(shí)驗室中為半導體行業(yè)開(kāi)發(fā)產(chǎn)品。很快，Khandros和他的小團隊發(fā)現了引線(xiàn)鍵合MicroSpring，這是三種半導體應用的基礎技術(shù)：插座、封裝和探針卡。從這些不起眼的開(kāi)始，他們與行業(yè)一起成長(cháng)，不斷應用實(shí)用創(chuàng )新來(lái)幫助半導體制造商跟上摩爾定律的步伐。如今，他們是全球半導體行業(yè)先進(jìn)SoC和內存探針卡的頂級供應商。
二、美國CASCADE部分產(chǎn)品介紹
1、美國CASCADE探針臺
①系統可配備FormFactor革命性的eVue數字成像系統或高性能SlimVue顯微鏡
②eVue的革命性設計實(shí)現了光學(xué)分辨率、數字變焦和實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)視頻之間的完美平衡
③該系統能夠比以往更快、更智能地導航、觀(guān)察和測量設備
④SlimVue™顯微鏡可減輕光子集成電路(PIC)上小焊盤(pán)探測所需的高放大倍率光學(xué)器件的機械干擾
⑤該系統使用戶(hù)能夠比以往更快、更智能地導航、觀(guān)察和測量設備
⑥Spectrum軟件允許用戶(hù)測量z位移
2、美國CASCADE可靠性測試臺
①提供kHz至170 GHz和kHz至220 GHz版本
②低插入損耗
③低接觸電阻
④探頭上集成雙工器，用于集成同軸電纜和波導頻段
⑤探頭間距窄至50μm
⑥光刻定義的探針尖端
3、美國CASCADE工程用探針
①獨特的空氣共面尖端設計，可選擇鈹銅(BeCu)或鎢尖端材料
②DC至110 GHz型號提供單線(xiàn)和雙線(xiàn)版本
③超低損耗(-L)版本具有低插入和回波損耗
④優(yōu)異的串擾特性
⑤寬工作溫度-65℃至+200℃
⑥提供多種螺距，從50到1250µm
⑦單獨支持的聯(lián)系人
⑧適用于小焊盤(pán)的減少接觸(RC)探針尖端
⑨鈹銅尖端可在金墊上提供堅固、可重復的接觸
4、美國CASCADE探頭Infinity探頭–同軸
①光刻薄膜結構
②優(yōu)異的串擾特性
③非氧化鎳合金尖端
④創(chuàng )新的力量輸送機制
⑤提供40GHz、50GHz、67GHz、110GHz和145GHz連接器
⑥GSG、SG、GS、GSSGG、GSSG、SGS配置
⑦50至250µm節距（可根據要求提供其他節距）
⑧提供高電流版本(2 A)
⑨卓越的場(chǎng)限制減少了與附近設備和傳輸模式的不必要的耦合
⑩卓越的測量精度和重復性
?小擦洗可最大程度地減少對鋁墊的損壞
?典型接觸電阻在A(yíng)l上<0.05Ω，在A(yíng)u上<0.02Ω
?通過(guò)將焊盤(pán)幾何尺寸縮小至25 x 35µm（最佳情況），節省寶貴的晶圓空間并減少焊盤(pán)寄生效應
5、美國CASCADE探針卡觸摸矩陣
①不斷波動(dòng)的價(jià)格和需求通常要求閃存制造商尋找新的運營(yíng)效率。
②FormFactor先進(jìn)的晶圓測試解決方案可提高產(chǎn)量并降低每個(gè)芯片的總體測試成本，從而幫助制造商應對這一壓力。
③FormFactor TouchMatrix™晶圓探針解決方案專(zhuān)門(mén)設計用于為200毫米和300毫米NAND和NOR閃存晶圓測試提供最低的每個(gè)芯片總體測試成本。
④它提供大規模并行性，并根據制造商測試設備和產(chǎn)品設計的變化進(jìn)行調整，以?xún)?yōu)化探針平面度和速度設置。這些功能共同提高了生產(chǎn)力并降低了總擁有成本。
三、美國CASCADE主要產(chǎn)品和型號
1、美國CASCADE主要產(chǎn)品
①美國CASCADE探針臺
②美國CASCADE可靠性測試臺
③美國CASCADE工程用探針
④美國CASCADE量產(chǎn)用探針
2、美國CASCADE產(chǎn)品型號
①美國CASCADE Infinity探頭–同軸
②美國CASCADE探頭ACP探頭–同軸
③美國CASCADE T波波導帶狀探頭
④美國CASCADE T-Wave寬帶（雙頻）探頭
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