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BRUKER熒光光譜儀
名稱:  BRUKER熒光光譜儀
型號:  M1 MISTRAL
品牌:  BRUKER
產(chǎn)地:  德國
立即咨詢
發(fā)布時間:  2023-03-30
瀏覽次數(shù):  750
產(chǎn)品詳情

作為一家高性能科學儀器和分析與診斷解決方案的開發(fā)商、制造商和經(jīng)銷商,BRUKER布魯克的高性能科技儀器以及高價值分析和診斷解決方案,讓科學家能夠在分子、細胞和微觀層面上探索生命和材料的奧秘。BRUKER的許多產(chǎn)品用于檢測、測量和可視化化學、生物和工業(yè)材料樣品的結構特征。布魯克的產(chǎn)品和解決方案可以滿足生命科學研究、制藥、生物技術、應用市場、細胞生物學、臨床研究、微生物學、體外診斷、納米技術和材料科學研究等領域不同客戶快速發(fā)展的需求。深圳市華聯(lián)歐國際貿易有限公司是國內專注歐美備件的知名經(jīng)銷商,產(chǎn)品都是全新原裝,絕不以次充好,下面就是我們關于德國布魯克BRUKER熒光光譜儀M1 MISTRAL的介紹,我們的產(chǎn)品貨期快,報價快速,型號齊全,價格合理,歡迎您訂購!

?德國布魯克BRUKER熒光光譜儀,用于元素分析的獨特的微區(qū)X射線熒光光譜儀。
微區(qū)X射線熒光光譜儀是非均勻或形狀不規(guī)則的樣品以及小樣品甚至內含物元素分析的首選方法。
M1 MISTRAL是一種緊湊型多功能臺式能量色散微區(qū)XRF光譜儀。M1 MISTRAL易于操作,設計用于在工業(yè)環(huán)境中快速、經(jīng)濟高效的操作,提供有關貴金屬合金等材料元素成分和鍍層厚度以及多層鍍層的準確信息。
根據(jù)ASTM標準B568和歐洲標準ISO 3497對塊體和鍍層進行分析。通過Rh靶材對化學沉積磷鎳(NIP)鍍層進行分析,可實現(xiàn)高精度。
所有珠寶合金、鉑族金屬或銀的精確成分可以在一分鐘內確定。結果可以以重量百分比或克拉表示。
分析可以進行無標方法或基于標樣的模型,以達到更高的精度。
從定位示例到在報表中打印結果-整個工作流程都可在軟件中實現(xiàn)。同時,通過開放訪問原始數(shù)據(jù),保證了數(shù)據(jù)的可重現(xiàn)性。

德國布魯克BRUKER熒光光譜儀亮點
①最小點大小,甚至可以對電路板上的精細鍍層分析
②用于分析多層鍍層,根據(jù)ASTM B568和ISO 3497對層厚和成分進行具有挑戰(zhàn)性的分析;包括具有重復元素的鍍層;可編程多點分析
③聚合物中的Cu、Zn或Zn中的Pb的檢測極限
④RoHS篩選,分析焊料、塑料、金屬合金中的微量元素;對材料厚度進行自動校正,對PCB組件進行精確測量點定位

德國布魯克BRUKER熒光光譜儀關鍵因素
①靈活
②易于操作
③用戶友好的觸摸屏界面
④允許訪問原始數(shù)據(jù)

德國布魯克BRUKER熒光光譜儀M1 MISTRAL的優(yōu)勢
可以無破壞性地測量各種元素。無需樣品制備。即使是復雜的分析任務也可以在可編程XYZ階段實現(xiàn)自動化,只需單擊鼠標即可開始。超快檢測系統(tǒng)提供快速結果。
M1 MISTRAL配有大面積硅漂移探測器(SDD),具有卓越的計數(shù)速率性能和能量分辨率,可將檢測限制降低至ppm級別。高性能檢測器、數(shù)字脈沖處理和優(yōu)化的幾何條件可產(chǎn)生高效的X射線檢測,從而快速準確地獲得分析結果。
M1 MISTRAL的易于使用且免維護的設計以及功能強大的分析軟件套件允許操作,即使只有接受過簡短培訓的人員也能夠操作。無需消耗品或氣體。堅固的結構確保了最高的穩(wěn)定性和免維護的操作。
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德國布魯克BRUKER熒光光譜儀極大的靈活性和廣泛的應用
金屬鍍層通過為各種產(chǎn)品提供增強的表面性能,對許多工業(yè)部門至關重要。金屬鍍層一般擁有耐用、耐腐蝕的特點,能夠保護基體材料,并最大限度地減少金屬制品的磨損。鍍層成分和厚度的質量控制對于確保正確的鍍層性能和耐久性至關重要。多工業(yè)部門至關重要。

金屬鍍層一般擁有耐用、耐腐蝕的特點,能夠保護基體材料,并最大限度地減少金屬制品的磨損。鍍層成分和厚度的質量控制對于確保正確的鍍層性能和耐久性至關重要。
化學鍍鎳(ENP)是一種自動催化化學工藝,是在基材上沉積一層鎳磷(Ni-P)合金鍍層。鎳磷鍍層的主要優(yōu)點之一是它能提供非常均勻的厚度,不依賴于零件的幾何形狀。化學鍍鎳可以覆蓋所有隱藏的表面,即使在最復雜的零件上也提供完整的涂層覆蓋。

隨著電子設備的日益增多,電子垃圾的產(chǎn)生速度也比以往任何時候都快。近年來,歐盟和其他國家制定了多項法規(guī),以促進電子垃圾的回收利用,并減少與電子垃圾生產(chǎn)增加相關的健康和環(huán)境風險。

德國布魯克BRUKER熒光光譜儀技術細節(jié)
①激發(fā)源:W靶或Rh靶的高性能微聚焦光管
②探測器:Peltier冷卻,30 mm2高性能硅漂移探測器,小于150 eV能量分辨率,在Mn Ka
③多種元素:默認值:從Ti(Z=22)W靶;可選:從Al(Z=13)Rh靶
④光斑大小:0.1 mm至1.5 mm的準直器自動切換
⑤最大樣本大小和重量:48 x 49 x 20 cm3;高達1.8 Kg
⑥樣品臺最大行駛范圍:高達200 mm x 175 mm x 80 mm(用于帶自動對焦和Easy Load功能的電動XYZ樣品臺)
⑦儀器尺寸(W x D x H):550 mm x 680 mm x 430 mm

德國布魯克BRUKER熒光光譜儀XSpect Pro分析軟件套件
①儀器控制、數(shù)據(jù)采集和管理
②用戶可選觸摸屏界面
③樣品臺控制和編程
④金屬多層鍍層厚度分析
⑤定量成分分析、無標準和基于標準的經(jīng)驗模型
⑥具有自動峰值識別的譜線查看功能
⑦統(tǒng)計過程控制(SPC)趨勢線和數(shù)據(jù)
⑧報告生成器
⑨結果存檔

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